W dniach 15-17 kwietnia 2026 roku Warszawa gościła SEM Working Group Annual Meeting – wydarzenie będące międzynarodową platformą wymiany doświadczeń osób wykorzystujących modele równań strukturalnych w swojej działalności badawczej. Spotkanie zostało zorganizowane przez Zakład Obliczeniowych Nauk Społecznych Instytutu Filozofii i Socjologii PAN oraz Zespół Badań Ilościowych i Eksperymentalnych Instytutu Badań Edukacyjnych – Państwowego Instytutu Badawczego (IBE PIB).
Wydarzenie zainaugurował warsztat prowadzony przez prof. Yvesa Rosseela (University of Ghent) pt. The structural-after-measurement (SAM) approach to structural equation modeling (SEM). Konferencja została również uświetniona wykładami zaproszonych gości, którymi byli prof. Yves Rosseel (University of Ghent) oraz prof. Jörg Henseler (University of Twente/Universidade Nova de Lisboa). W trakcie spotkania wygłoszono ponad 20 referatów, a wśród osób prezentujących znaleźli się badacze i badaczki afiliowani przy instytucjach naukowych z takich krajów jak: Argentyna, Belgia, Holandia, Kanada, Niemcy, Polska, czy USA.
Spośród osób związanych z Zakładem swoje wystąpienia wygłosili:
- Artur Pokropek: From Keyword-Based Text Measures to Latent Variables: Confirmatory Factor Analysis with Word Embeddings
- Tomasz Żółtak: Confirmatory Factor Analysis solely on Word Embeddings
- Marek Muszyński i Piotr Jabkowski (UAM Poznań): Careless Responding, Response Styles, and Confirmatory Factor Analysis: Evidence from the European Social Survey
- Michał Taracha: Socio-Economic Inequalities and Union Formation Trajectories Among Young Adults in Europe
Organizatorzy pragną serdecznie podziękować Dyrekcji IBE i IFiS PAN za wsparcie finansowe. Szczególne podziękowania za wysiłek włożony w organizację wydarzenia kierowane są również do koleżanek z IBE PIB: dr Aleksandra Jasińska-Maciążek, Marta Babecka, Aleksandra Kowalska, Alicja Karaskiewicz-Wiśniewska.
Kolejne wydarzenie z serii SEM WG Meeting odbędzie się wiosną 2027 roku w Paryżu.
Fotorelację przygotowała dr Maria Flakus (IFiS PAN):
